上海積塔半導(dǎo)體有限公司胡林輝獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉上海積塔半導(dǎo)體有限公司申請的專利LDMOS器件及其形成方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN119967863B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202510437217.7,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H10D30/65;該發(fā)明授權(quán)LDMOS器件及其形成方法是由胡林輝;張文劍;仇峰;張薔設(shè)計研發(fā)完成,并于2025-04-09向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本LDMOS器件及其形成方法在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種LDMOS器件及其形成方法。所述LDMOS器件包括:襯底,包括沿第一方向相對分布的正面和背面;體區(qū),位于襯底內(nèi),體區(qū)內(nèi)具有溝槽;源極區(qū),位于體區(qū)內(nèi),且源極區(qū)分布于溝槽的側(cè)壁上和溝槽的底面上,源極區(qū)包括位于溝槽的底面上的體區(qū)接觸區(qū)和環(huán)繞體區(qū)接觸區(qū)的外周分布的源極摻雜區(qū),源極摻雜區(qū)呈彎折形狀且連續(xù)分布于溝槽的側(cè)壁上和溝槽的部分底面上;漂移區(qū),位于襯底內(nèi),且漂移區(qū)沿第二方向分布于所述體區(qū)的外側(cè),第二方向與第一方向垂直相交;漏極區(qū),位于漂移區(qū)中。本發(fā)明能夠在確保LDMOS器件的過流能力的同時,降低LDMOS器件的比導(dǎo)通電阻。
本發(fā)明授權(quán)LDMOS器件及其形成方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種LDMOS器件,其特征在于,包括: 襯底,包括沿第一方向相對分布的正面和背面; 體區(qū),位于所述襯底內(nèi),所述體區(qū)內(nèi)具有溝槽; 源極區(qū),位于所述體區(qū)內(nèi),所述源極區(qū)包括位于所述溝槽的底面上的體區(qū)接觸區(qū)和環(huán)繞所述體區(qū)接觸區(qū)的外周對稱分布的源極摻雜區(qū),所述源極摻雜區(qū)呈彎折形狀且連續(xù)分布于所述溝槽的側(cè)壁上和所述溝槽的部分底面上,所述體區(qū)接觸區(qū)與所述源極摻雜區(qū)接觸連接,其中,通過所述溝槽增大所述源極區(qū)的面積,以確保所述LDMOS器件的過流能力;同時,通過縮小體區(qū)的尺寸來縮減所述LDMOS器件中源極區(qū)與漏極區(qū)距離,以降低所述LDMOS器件的比導(dǎo)通電阻; 漂移區(qū),位于所述襯底內(nèi),且所述漂移區(qū)沿第二方向分布于所述體區(qū)的外側(cè),所述第二方向與所述第一方向垂直相交; 漏極區(qū),位于所述漂移區(qū)中。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人上海積塔半導(dǎo)體有限公司,其通訊地址為:201306 上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)臨港新片區(qū)云水路600號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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