中國科學院長春光學精密機械與物理研究所杜一民獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利納米級電容傳感器的快速裝調裝置及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120252489B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510751385.3，技術領域涉及：G01B7/02；該發明授權納米級電容傳感器的快速裝調裝置及方法是由杜一民;白曉泉;許博謙;高雁;匡也;谷茜茜設計研發完成，并于2025-06-06向國家知識產權局提交的專利申請。
本納米級電容傳感器的快速裝調裝置及方法在說明書摘要公布了：本發明涉及電容傳感器安裝領域，尤其涉及一種納米級電容傳感器的快速裝調裝置及方法，納米級電容傳感器的快速裝調裝置包括基座和三個裝調工裝。基座包括用于放置待測組件的測量塊的容納空間，三個電容傳感器探頭分別固定于容納空間的三個內壁，用于測量測量塊在三個相互垂直的方向上的位移。三個裝調工裝分別對應設置于容納空間的三個內壁，裝調工裝包括安裝部，安裝部包括沿第一方向相對設置、且平行的兩個安裝面，兩個安裝面中的一者抵接于容納空間的內壁，另一者抵接于測量塊的表面。安裝部可拆卸地安裝于容納空間的內壁和測量塊的表面之間。如此在保證電容傳感器的安裝精度要求的同時，可以實現電容傳感器的快速裝調。
本發明授權納米級電容傳感器的快速裝調裝置及方法在權利要求書中公布了：1.一種納米級電容傳感器的快速裝調裝置，其特征在于，包括： 基座，包括用于放置待測組件的測量塊的容納空間，三個電容傳感器探頭分別固定于所述容納空間的三個內壁，用于測量所述測量塊在三個相互垂直的方向上的位移，所述基座固定連接于測量基準上，所述待測組件的鏡體連接于所述測量塊；及 三個裝調工裝，分別對應設置于所述容納空間的三個內壁，所述裝調工裝包括安裝部，所述安裝部包括沿第一方向相對設置、且平行的兩個安裝面，所述兩個安裝面中的一者抵接于所述容納空間的內壁，另一者抵接于所述測量塊的表面；所述安裝部可拆卸地安裝于所述容納空間的內壁和所述測量塊的表面之間，將三個所述裝調工裝拆除，以使所述電容傳感器探頭通過所述基座固定于所述測量基準上，所述測量塊固定于所述鏡體上，且所述電容傳感器探頭的表面平行于所述測量塊的表面，對所述電容傳感器探頭與所述測量塊之間的間距變化，以實現對鏡體位移的監測。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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