泰科天潤半導體科技(北京)有限公司胡臻獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉泰科天潤半導體科技(北京)有限公司申請的專利一種低驅動電壓溝槽柵碳化硅VDMOS及其制備方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120282481B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510757256.5,技術領域涉及:H10D30/01;該發明授權一種低驅動電壓溝槽柵碳化硅VDMOS及其制備方法是由胡臻;何佳;陳彤;周海設計研發完成,并于2025-06-09向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種低驅動電壓溝槽柵碳化硅VDMOS及其制備方法在說明書摘要公布了:本發明提供了一種低驅動電壓溝槽柵碳化硅VDMOS及其制備方法,包括:在碳化硅襯底下側面淀積金屬,形成漏極金屬層;在碳化硅襯底上側面外延生長,形成漂移層;形成阻擋層,刻蝕,離子注入,形成掩蔽層、P型阱區、P型基區、P型源區及N型源區;重新形成阻擋層,刻蝕阻擋層形成通孔,并刻蝕漂移層至N型源區上側面,淀積金屬,形成源極金屬層;重新形成阻擋層,刻蝕阻擋層形成通孔,并刻蝕漂移層至掩蔽層上側面,淀積,形成絕緣介質層;重新形成阻擋層,刻蝕阻擋層形成通孔,并刻蝕絕緣介質層形成溝槽,淀積金屬,形成柵極金屬層,去除阻擋層,完成制備,降低器件驅動電壓,降低器件驅動損耗。提高器件可靠性。
本發明授權一種低驅動電壓溝槽柵碳化硅VDMOS及其制備方法在權利要求書中公布了:1.種低驅動電壓溝槽柵碳化硅VDMOS,其特征在于:包括 碳化硅襯底, 漂移層,所述漂移層下側面連接至所述碳化硅襯底上側面;所述漂移層上設有凸起部,所述凸起部內設有凹槽; P型阱區,所述P型阱區下側面連接至所述漂移層上側面,且所述P型阱區內側面連接至所述凸起部外側面; P型基區,所述P型基區下側面連接至所述P型阱區上側面,所述P型基區內側面連接至所述凸起部外側面; P型源區,所述P型源區下側面連接至所述P型基區上側面; N型源區,所述N型源區下側面連接至所述P型基區上側面,所述N型源區外側面連接至所述P型源區內側面,所述N型源區內側面連接至所述凸起部外側面; 掩蔽層,所述掩蔽層設于所述凹槽內; 絕緣介質層,所述絕緣介質層設于所述凹槽內,且所述絕緣介質層下側面連接至所述掩蔽層上側面;所述絕緣介質層突出于所述凹槽,所述絕緣介質層內設有溝槽; 柵極金屬層,所述柵極金屬層設于所述溝槽內; 源極金屬層,所述源極金屬層分別連接所述凸起部上側面、P型源區上側面以及N型源區上側面; 以及,漏極金屬層,所述漏極金屬層連接至所述碳化硅襯底下側面; N型源區、高摻雜的P型基區以及低摻雜的P型阱區與絕緣介質層均沒有直接連接,中間間隔漂移層。
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