中國科學院長春光學精密機械與物理研究所周滿獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利一種立式光學檢測裝置獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120368878B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510849600.3,技術領域涉及:G01B11/24;該發明授權一種立式光學檢測裝置是由周滿;胡海翔;李明茁;劉澤坤;郭乃泉設計研發完成,并于2025-06-24向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種立式光學檢測裝置在說明書摘要公布了:本發明公開了一種立式光學檢測裝置,涉及光學檢測技術領域,包括干涉組件、若干光學組件、光學平臺和固設于支撐平臺的支撐框架,支撐框架包括并排設置的第一架體和第二架體,第一架體內固設有至少一塊第一層板,全部第一層板將第一架體的第一空間分割成至少兩個第一放置區,干涉組件擇一放置于第一放置區。第二架體內設有至少一塊第二層板,至少一塊第二層板在第二架體內的高度可調,全部第二層板將第二架體的第二空間分隔成至少兩個第二放置區,全部光學組件選擇性放置于第二放置區。通過多種組合方式調整干涉組件與各光學組件的相對位置,共同構成多種不同的檢測光路,確保干涉組件與全部光學組件能形成預設檢測光路,能夠滿足多樣化檢測需求。
本發明授權一種立式光學檢測裝置在權利要求書中公布了:1.一種立式光學檢測裝置,其特征在于,包括干涉組件(1)、若干光學組件(2)、光學平臺(3)和固設于所述光學平臺(3)的支撐框架(4);所述支撐框架(4)包括并排設置的第一架體(41)和第二架體(42); 所述第一架體(41)內固設有至少一塊第一層板,全部所述第一層板將所述第一架體(41)的第一空間分割成至少兩個第一放置區,所述干涉組件(1)擇一放置于所述第一放置區; 所述第二架體(42)內設有至少一塊第二層板,至少一塊所述第二層板在所述第二架體(42)內的高度可調;全部所述第二層板將所述第二架體(42)的第二空間分隔成至少兩個第二放置區,全部所述光學組件(2)選擇性放置于所述第二放置區,所述干涉組件(1)與全部所述光學組件(2)共同構成預設檢測光路。
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