北京華峰測控技術股份有限公司張文獲國家專利權
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龍圖騰網(wǎng)獲悉北京華峰測控技術股份有限公司申請的專利浮動結構、接口裝置、電路板單元、半導體測試方法和設備獲國家發(fā)明授權專利權,本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN113945737B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產權局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉:該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為:202111309394.5,技術領域涉及:G01R1/04;該發(fā)明授權浮動結構、接口裝置、電路板單元、半導體測試方法和設備是由張文;居寧;戴力設計研發(fā)完成,并于2021-11-06向國家知識產權局提交的專利申請。
本浮動結構、接口裝置、電路板單元、半導體測試方法和設備在說明書摘要公布了:本發(fā)明涉及一種用于半導體測試的浮動結構、接口裝置、電路板單元、半導體測試方法和設備,浮動結構包括:架體、浮動板、限位件,浮動板包含一位于側邊緣的輸出端,浮動板彈性裝配在架體上,并至少能夠相對于架體彈性傾斜,以至少調節(jié)輸出端的朝向,輸出端被配置為用于安裝連接器,限位件裝配在架體上,限位件上設置有限位結構,限位結構被配置為用于至少形成限制浮動板傾斜角度的傾角范圍,浮動板與限位結構活動限位裝配,以在傾角范圍內彈性傾斜。浮動板能相對于架體多方向運動,在滿足粗定位后,連接器可以在與外部設備的接口端對接時起到靈活的自動糾偏效果,對位連接過程中靈活匹配,自動精準對位。
本發(fā)明授權浮動結構、接口裝置、電路板單元、半導體測試方法和設備在權利要求書中公布了:1.一種用于半導體測試的浮動結構,其特征在于,所述浮動結構包括: 架體; 浮動板,所述浮動板包含一位于側邊緣的輸出端,所述浮動板彈性裝配在所述架體上,并至少能夠相對于所述架體彈性傾斜,以至少調節(jié)所述輸出端的朝向,所述輸出端被配置為用于安裝連接器; 限位件,裝配在所述架體上,所述限位件上設置有限位結構,所述限位結構為開設在所述限位件上的限位槽,所述浮動板上開設有限位孔,所述限位孔與所述限位件插接配合并限位裝配在所述限位槽內,所述限位結構被配置為用于至少形成限制所述浮動板傾斜角度的傾角范圍,所述浮動板與所述限位結構活動限位裝配,以在所述傾角范圍內彈性傾斜。
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