湖南航天機電設備與特種材料研究所楊銳獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉湖南航天機電設備與特種材料研究所申請的專利一種溫控轉臺定位重復性檢測方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115061505B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202210329932.5,技術領域涉及:G05D3/12;該發明授權一種溫控轉臺定位重復性檢測方法是由楊銳;丁濤;盛家輝;李俊;吳松;尹安民;王學文;孫皓設計研發完成,并于2022-03-31向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種溫控轉臺定位重復性檢測方法在說明書摘要公布了:本發明公開的一種溫控轉臺定位重復性檢測方法,通過電子經緯儀獲取常溫下的多組方位角和俯仰角;再控制溫控轉臺的溫度箱的溫度,通過電子經緯儀獲取每個溫度點下的多組方位角和俯仰角;最后根據所有方位角數據計算方位角重復性,即內框定位重復性。電子經緯儀不需要和反光組件的法線方向嚴格等高,且不易受到外界光線干擾,因此采用電子經緯儀通過溫度箱玻璃窗口能夠準確地瞄準和讀數,可實現在高低溫條件下對各型號溫控轉臺內框定位重復性檢測,使用簡單、方便靈活,在各型號溫控轉臺內框定位重復性檢測中擁有廣闊的應用前景。
本發明授權一種溫控轉臺定位重復性檢測方法在權利要求書中公布了:1.一種溫控轉臺定位重復性檢測方法,其特征在于,在所述溫控轉臺的內框臺面上設有反光組件,在所述溫控轉臺附近架設有電子經緯儀,所述檢測方法包括以下步驟: 步驟1:調整所述電子經緯儀,使其光軸垂直于反光組件,讀取常溫下所述電子經緯儀上顯示的方位角α1T1和俯仰角β1T1,并記此時溫控轉臺內框的位置為初始位置; 步驟2:控制所述溫控轉臺的內框轉動360°,調整所述電子經緯儀,使其光軸垂直于反光組件,讀取常溫下所述電子經緯儀上顯示的方位角α2T1和俯仰角β2T1; 步驟3:重復所述步驟2n次,得到常溫下n組方位角αiT1和俯仰角βiT1,進而得到常溫下N組方位角αiT1和俯仰角βiT1,其中N=n+2; 步驟4:控制所述溫控轉臺的溫度箱的溫度達到并保持在T2; 步驟5:重復所述步驟1~3,得到溫度為T2時N組方位角αiT2和俯仰角βiT2; 步驟6:控制所述溫控轉臺的溫度箱的溫度達到并保持在下一個溫度點,重復所述步驟4~5,直到完成所有溫度點下方位角和俯仰角的測試,得到不同溫度點下N組方位角和俯仰角; 步驟7:根據所述步驟6中不同溫度點下N組方位角和俯仰角計算方位角重復性,即內框定位重復性; 其中,所述方位角重復性計算公式為: 其中,σ為方位角重復性,αiTj為溫度Tj下的第i個方位角,N為每個溫度點下得到的方位角數量,M為溫度點的數量,為所有溫度點下所有方位角的平均值。
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