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龍圖騰網(wǎng)獲悉合肥工業(yè)大學;中國電子科技集團公司第三十八研究所申請的專利一種基于點目標的毫米波天線陣列校準方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN116626620B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202310349268.5，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01S7/40；該發(fā)明授權(quán)一種基于點目標的毫米波天線陣列校準方法是由張晶晶;王舜;曹銳;張炎;陶小輝;彭國良;齊先軍;楊熙設(shè)計研發(fā)完成，并于2023-04-04向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種基于點目標的毫米波天線陣列校準方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種基于點目標的毫米波天線陣列校準方法，包括：1、建立數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)；2、利用相位變化求解點目標相對雷達掃描孔徑中心點的x軸、y軸偏移距離；3、根據(jù)雷達在x軸的掃描起始點、點目標在雷達掃描平面上的投影點、點目標的位置建立直角三角形；4、根據(jù)得到的x軸峰值數(shù)據(jù)相位變化曲線，利用相位公式和勾股定理求解點目標到雷達掃描孔徑的距離；5、根據(jù)點目標相對雷達掃描孔徑中心點的x軸、y軸偏移距離和到雷達掃描孔徑的距離求解校準參數(shù)；6、根據(jù)校準參數(shù)實現(xiàn)對實驗?zāi)繕说臄?shù)據(jù)校準。本發(fā)明能實現(xiàn)毫米波天線陣列的相位和頻率偏移校準，從而能提高毫米波天線陣列各通道幅度和相位的校準精度。

本發(fā)明授權(quán)一種基于點目標的毫米波天線陣列校準方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于點目標的毫米波天線陣列校準方法，其特征在于，包括如下步驟： 步驟1：建立數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，包括：上位機、毫米波雷達、數(shù)據(jù)采集卡、雙軸機械掃描架，其中，由所述毫米波雷達與數(shù)據(jù)采集卡構(gòu)成數(shù)據(jù)采集模塊，并放置在所述雙軸機械掃描架的水平軸上； 步驟2：以所述毫米波雷達所在的位置為原點o，以所述毫米波雷達的水平掃描方向為x軸，以所述毫米波雷達的豎直掃描方向為y軸，以所述毫米波雷達的正前方作為z軸，建立所述毫米波雷達的三維坐標系； 以xoy平面為雷達掃描平面，在所述雷達掃描平面上設(shè)置雷達掃描孔徑，所述雷達掃描孔徑沿x軸水平方向和y軸豎直方向上的長度分別為、，雷達掃描孔徑中心點為； 步驟3：將點目標放置在雷達掃描孔徑正前方，點目標的x軸、y軸坐標設(shè)置在雷達掃描孔徑的范圍內(nèi)； 步驟4：根據(jù)相位變化求解點目標相對雷達掃描孔徑中心點的x軸偏移距離、y軸偏移距離； 步驟5：利用相位公式和勾股定理求解點目標的位置到雷達掃描平面上的投影點的距離Z； 步驟6：求解毫米波天線陣列的校準參數(shù)，包括：復(fù)增益因子calData和通道延時delayOffset； 步驟7：根據(jù)所述毫米波天線陣列的校準參數(shù)對實驗?zāi)繕诉M行數(shù)據(jù)校準； 步驟7.1：利用所述天線陣列的所有收發(fā)天線沿xoy平面設(shè)置的雷達掃描孔徑對實驗?zāi)繕诉M行數(shù)據(jù)采集，得到實驗?zāi)繕说幕夭〝?shù)據(jù)并進行數(shù)據(jù)裁減和維度處理，從而得到原始數(shù)據(jù)rawData，計算復(fù)增益校準后的數(shù)據(jù)；其中，表示點乘； 步驟7.2：根據(jù)雷達采樣速率和雷達的頻率斜率K，得到兩個采樣點的頻率固定差值f，并計算拍頻偏移校準后的數(shù)據(jù)；其中，表示頻率偏移因子，且。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人合肥工業(yè)大學;中國電子科技集團公司第三十八研究所，其通訊地址為：230009 安徽省合肥市包河區(qū)屯溪路193號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。