散裂中子源科學中心;中國科學院高能物理研究所榮林艷獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉散裂中子源科學中心;中國科學院高能物理研究所申請的專利基于同FPGA板卡的低電平控制及功率檢測及駐波比保護系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN116614932B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202310356253.1，技術領域涉及：H05H7/00；該發明授權基于同FPGA板卡的低電平控制及功率檢測及駐波比保護系統是由榮林艷;慕振成;傅世年;王林;歐陽華甫;王博;謝哲新;萬馬良;張輝;王禾欣設計研發完成，并于2023-04-04向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于同FPGA板卡的低電平控制及功率檢測及駐波比保護系統在說明書摘要公布了：本發明涉及粒子加速器技術領域，具體是一種可以實現加速器低電平控制及功率監測的一體化系統的基于同FPGA板卡的低電平控制及功率檢測及駐波比保護系統；所述的系統包括設置在同一塊FPGA板卡上的加速器低電平控制系統和功率檢測及駐波比保護系統，所述的加速器低電平控制系統包括AD采樣、直接IQ解調模塊、IIR濾波、幅度相位轉換模塊、PI反饋控制器、數字上變頻模塊、開關和DAC芯片；所述功率檢測及駐波比保護系統包括AD采樣、IQ解調模塊、IIR濾波、功率計算模塊和駐波比保護模塊；本發明實現簡化了功率檢測環節，保證了系統穩定性的同時降低了系統的使用成本，對于信號中夾雜的多頻譜分量的功率檢測具有優勢，具有良好的社會經濟效益。
本發明授權基于同FPGA板卡的低電平控制及功率檢測及駐波比保護系統在權利要求書中公布了：1.基于同FPGA板卡的低電平控制及功率檢測及駐波比保護系統，所述的系統用于實現對加速器低電平控制及功率監測的一體化系統，其特征在于：所述的系統包括設置在同一塊FPGA板卡上的加速器低電平控制系統和功率檢測及駐波比保護系統，所述的加速器低電平控制系統包括AD采樣、直接IQ解調模塊、IIR濾波、幅度相位轉換模塊、PI反饋控制器、數字上變頻模塊、開關和DAC芯片；所述功率檢測及駐波比保護系統包括AD采樣、IQ解調模塊、IIR濾波、功率計算模塊和駐波比保護模塊。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人散裂中子源科學中心;中國科學院高能物理研究所，其通訊地址為：523000 廣東省東莞市松山湖高新技術產業開發區總部二路2號光大數字家庭（推廣名：光大we谷）一區1棟1號樓1316號房；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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