天津大學吳騰飛獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉天津大學申請的專利二維正交轉鏡系統的結構誤差參量的標定方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120252514B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510743484.7,技術領域涉及:G01B11/00;該發明授權二維正交轉鏡系統的結構誤差參量的標定方法是由吳騰飛;曲灝辰設計研發完成,并于2025-06-05向國家知識產權局提交的專利申請。
本二維正交轉鏡系統的結構誤差參量的標定方法在說明書摘要公布了:本發明提供了一種二維正交轉鏡系統的結構誤差參量的標定方法,可以應用于大尺寸測量技術領域。該標定方法包括:獲取n個空間點的測量坐標值和參考坐標值;其中,測量坐標值是球坐標系,測量坐標值是利用二維正交轉鏡系統測得的,參考坐標值是利用激光跟蹤儀測量得到的;基于q個結構誤差參量和與每個結構誤差參量相關聯的球坐標系的距離項、方位角和俯仰角,構建誤差模型;其中,1≤q≤3n?6;基于誤差模型和n個空間點的測量坐標值,構建n個空間點的補正坐標量;基于n個空間點的補正坐標量和n個空間點的參考坐標值,得到q個結構誤差參量的解算值,完成結構誤差參量的標定。
本發明授權二維正交轉鏡系統的結構誤差參量的標定方法在權利要求書中公布了:1.一種二維正交轉鏡系統的結構誤差參量的標定方法,其特征在于,所述標定方法包括: 獲取n個空間點的測量坐標值和參考坐標值;其中,所述測量坐標值是球坐標系,所述測量坐標值是利用二維正交轉鏡系統測得的,所述參考坐標值是利用激光跟蹤儀測量得到的; 基于q個結構誤差參量和與每個結構誤差參量相關聯的所述球坐標系的距離項、方位角和俯仰角,構建誤差模型;其中,1≤q≤3n-6; 其中,所述基于q個結構誤差參量和與每個結構誤差參量相關聯的所述球坐標系的距離項、方位角和俯仰角,構建誤差模型包括: 基于q個結構誤差參量和與每個結構誤差參量相關聯的所述球坐標系的距離項,構建第一誤差子模型; 基于q個結構誤差參量和與每個結構誤差參量相關聯的所述球坐標系的方位角,構建第二誤差子模型; 基于q個結構誤差參量和與每個結構誤差參量相關聯的所述球坐標系的俯仰角,構建第三誤差子模型;以及 基于所述第一誤差子模型、所述第二誤差子模型和所述第三誤差子模型,構建所述誤差模型; 基于所述誤差模型和所述n個空間點的測量坐標值,構建所述n個空間點的補正坐標量; 基于所述n個空間點的補正坐標量和所述n個空間點的參考坐標值,得到q個結構誤差參量的解算值,完成結構誤差參量的標定。
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