西安電子工程研究所郭鵬程獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉西安電子工程研究所申請的專利基于慣導誤差修正的SAR圖像特征匹配方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN115690473B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202211340999.5,技術領域涉及:G06V10/75;該發明授權基于慣導誤差修正的SAR圖像特征匹配方法是由郭鵬程;許凱凱;王晶晶;聶強設計研發完成,并于2022-10-30向國家知識產權局提交的專利申請。
本基于慣導誤差修正的SAR圖像特征匹配方法在說明書摘要公布了:本發明涉及一種基于慣導誤差信息修正的SAR圖像特征匹配方法,利用根據搜索策略得到的匹配點估計實時圖在基準圖中的大致位置,然后利用慣導誤差信息設計匹配坐標相對位置與估計位置差值的門限,最后利用該閾值,對匹配點的位置差與估計位置的差進行篩選,從而去除大量異常的誤匹配點。該方法用于去除對特征點進行最近鄰搜索匹配后得到的匹配點中存在的大量誤匹配,從而提高SAR圖像特征匹配算法的穩健性。解決了常見的特征匹配算法在利用隨機采樣一致性算法計算仿射變換矩陣前的匹配點中存在大量誤匹配點,從而導致仿射變換矩陣計算耗時長甚至計算錯誤的問題。
本發明授權基于慣導誤差修正的SAR圖像特征匹配方法在權利要求書中公布了:1.一種基于慣導誤差修正的SAR圖像特征匹配方法,其特征在于設在基準圖和實時圖上分別得到Mb個和Mr個特征點,Mb≠Mr,根據搜索策略得到Mb個和Mr個特征點之間的對應關系N個,Mb>N且Mr>N,步驟如下: 步驟1:從根據搜索策略得到的N個匹配點對中估計實時圖在基準圖中的位置: 其中xir-xib是基準圖中第i個匹配點,yir-yib是實時圖中第i個匹配點; 步驟2:根據慣導誤差信息設計閾值T,設慣導的角度誤差為Δθ,則閾值設置為LΔθ,其中L為基準圖的寬度; 步驟3:針對每對匹配點,計算基準圖與實時圖之間y坐標的差δy,則δy相對于yc的大小不應超過T,即|δy-yc|<LΔθ,從而去掉不滿足條件的匹配點,剩下Nr個匹配點; 步驟4:利用剩下的Nr個匹配點計算仿射變換矩陣H; 步驟5:將變換矩陣應用于所有Nr個剩余的匹配點,即計算實時圖中Nr個匹配點在仿射變換矩陣H作用下的象點,然后計算象點與基準圖中Nr個匹配點之間的距離,去掉精度不滿足要求的點,將剩下的匹配點作為最終的特征匹配結果。
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