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龍圖騰網(wǎng)獲悉同濟(jì)大學(xué)申請(qǐng)的專利聯(lián)合輻射亮溫與地層信息的月球淺表層介電損耗估計(jì)方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN116257985B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-22發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202211722190.9，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F30/20；該發(fā)明授權(quán)聯(lián)合輻射亮溫與地層信息的月球淺表層介電損耗估計(jì)方法是由馮永玖;陳書睿;曹雨澤;童小華;柳思聰;謝歡;許雄;陳鵬;金雁敏;王超設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-12-30向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本聯(lián)合輻射亮溫與地層信息的月球淺表層介電損耗估計(jì)方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明涉及一種聯(lián)合輻射亮溫與地層信息的月球淺表層介電損耗估計(jì)方法，包括：獲取嫦娥二號(hào)輻射亮溫?cái)?shù)據(jù)并確定觀測(cè)時(shí)刻當(dāng)?shù)貢r(shí)間；獲取嫦娥四號(hào)測(cè)月雷達(dá)數(shù)據(jù)并進(jìn)行預(yù)處理；基于測(cè)月雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行地層劃分，提取月壤層數(shù)據(jù)；確定月表物理溫度；基于測(cè)月雷達(dá)探測(cè)處的月壤層厚度及輻射亮溫?cái)?shù)據(jù)的可探測(cè)深度，排除月壤層下方巖石輻射對(duì)回波的影響，以月表物理溫度數(shù)據(jù)作為約束條件依托一維熱力學(xué)方程構(gòu)建月球淺表層物理溫度模型；結(jié)合物理溫度模型及輻射傳輸方程實(shí)現(xiàn)對(duì)不同頻率輻射亮溫的有效模擬；將觀測(cè)的輻射亮溫與不同介電損耗條件下反演的輻射亮溫進(jìn)行對(duì)比與匹配，確定不同頻率下淺表層介電損耗范圍。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有預(yù)測(cè)精度高等優(yōu)點(diǎn)。

本發(fā)明授權(quán)聯(lián)合輻射亮溫與地層信息的月球淺表層介電損耗估計(jì)方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種聯(lián)合輻射亮溫與地層信息的月球淺表層介電損耗估計(jì)方法，其特征在于，包括以下步驟： 步驟1獲取嫦娥二號(hào)輻射亮溫?cái)?shù)據(jù)并確定觀測(cè)時(shí)刻的當(dāng)?shù)貢r(shí)間； 步驟2獲取嫦娥四號(hào)測(cè)月雷達(dá)數(shù)據(jù)并進(jìn)行預(yù)處理； 步驟3基于預(yù)處理后的測(cè)月雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行地層劃分，并提取月壤層數(shù)據(jù)； 步驟4獲取月球勘測(cè)者熱中外第7波段數(shù)據(jù)，作為月表物理溫度； 步驟5基于測(cè)月雷達(dá)探測(cè)處月壤層數(shù)據(jù)中的月壤層厚度及輻射亮溫?cái)?shù)據(jù)的可探測(cè)深度，排除月壤層下方巖石輻射對(duì)回波的影響，以月表物理溫度數(shù)據(jù)作為約束條件依托一維熱力學(xué)方程構(gòu)建月球淺表層物理溫度模型： 其中，ρ是介質(zhì)密度，c是比熱容，κ是熱導(dǎo)率，是輻射率，σ是斯特凡-玻爾茲曼常數(shù)，Qs是月表物理溫度，Qs是太陽輻射，Qg是地?zé)彷椛洌?步驟6結(jié)合月球淺表層物理溫度模型及輻射傳輸方程實(shí)現(xiàn)對(duì)不同頻率輻射亮溫的有效模擬； 所述步驟6包括以下步驟： 步驟6-1根據(jù)探測(cè)頻率、介電常數(shù)及損耗角正切估算功率損耗系數(shù)； 步驟6-2根據(jù)月球淺表層物理溫度模型提供的不同深度的物理溫度，結(jié)合功率損耗系數(shù)以及各地層權(quán)重進(jìn)行輻射亮溫TB的有效模擬： 其中，Ti是不同深度的物理溫度，Wi是各地層權(quán)重，di是地層i的厚度，rii+1是地層i和i+1的反射系數(shù)，∈i是地層i的介電常數(shù)，ki是地層i的功率損耗系數(shù)； 步驟7將觀測(cè)的輻射亮溫與不同介電損耗條件下反演的輻射亮溫進(jìn)行對(duì)比與匹配，確定不同頻率下淺表層介電損耗范圍。

如需購(gòu)買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)＠麢?quán)人同濟(jì)大學(xué)，其通訊地址為：200092 上海市楊浦區(qū)四平路1239號(hào)；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。