西安紫光國芯半導體有限公司白亮獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉西安紫光國芯半導體有限公司申請的專利三維堆疊存儲芯片的測試方法及三維堆疊存儲芯片獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN114882932B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-23發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202210520679.1,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G11C29/04;該發(fā)明授權(quán)三維堆疊存儲芯片的測試方法及三維堆疊存儲芯片是由白亮設計研發(fā)完成,并于2022-05-12向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本三維堆疊存儲芯片的測試方法及三維堆疊存儲芯片在說明書摘要公布了:本申請?zhí)峁┮环N三維堆疊存儲芯片的測試方法及三維堆疊存儲芯片。該存儲芯片包括堆疊互連的至少兩個晶粒,該測試方法包括:控制至少兩個晶粒中之一獲取期望數(shù)據(jù);通過至少兩個晶粒中之另一的讀寫數(shù)據(jù)線得到測試數(shù)據(jù),比對測試數(shù)據(jù)和期望數(shù)據(jù)以產(chǎn)生相應的比對結(jié)果,從而基于比對結(jié)果確定至少兩個晶粒之間的連通性;其中,堆疊互連的至少兩個晶粒的讀寫數(shù)據(jù)線通過至少兩個晶粒間的堆疊互連結(jié)構(gòu)彼此連接。該測試方法能夠定位三維堆疊產(chǎn)品因互連工藝引起失效,以及提供精準的有互連問題的互連線路信息,繼而間接或直接解決三維堆疊存儲芯片因互連工藝問題引起的產(chǎn)品良率較低的問題。
本發(fā)明授權(quán)三維堆疊存儲芯片的測試方法及三維堆疊存儲芯片在權(quán)利要求書中公布了:1.一種三維堆疊存儲芯片的測試方法,其特征在于,所述存儲芯片包括堆疊互連的至少兩個晶粒,所述測試方法包括: 控制所述至少兩個晶粒中之一獲取期望數(shù)據(jù); 通過所述至少兩個晶粒中之另一的讀寫數(shù)據(jù)線得到測試數(shù)據(jù),比對所述測試數(shù)據(jù)和所述期望數(shù)據(jù)以產(chǎn)生相應的比對結(jié)果,從而基于所述比對結(jié)果確定所述至少兩個晶粒之間的連通性;其中,堆疊互連的所述至少兩個晶粒的所述讀寫數(shù)據(jù)線通過所述至少兩個晶粒間的堆疊互連結(jié)構(gòu)彼此連接;所述期望數(shù)據(jù)和所述測試數(shù)據(jù)是基于同一接口獲取的,且所述期望數(shù)據(jù)和所述測試數(shù)據(jù)是基于同一測試輸入指令產(chǎn)生的。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人西安紫光國芯半導體有限公司,其通訊地址為:710000 陜西省西安市高新區(qū)丈八街辦高新六路38號A座4樓;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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