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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利基于數據驅動的光學元件面形頻段誤差劃分方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120521554B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-23發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202511030426.6，技術領域涉及：G01B21/20；該發明授權基于數據驅動的光學元件面形頻段誤差劃分方法是由王孝坤;劉源;王玉坤;劉忠凱;李凌眾;李文涵;蔡夢雪;張學軍設計研發完成，并于2025-07-25向國家知識產權局提交的專利申請。

本基于數據驅動的光學元件面形頻段誤差劃分方法在說明書摘要公布了：本發明涉及面形檢測技術領域，尤其涉及一種基于數據驅動的光學元件面形頻段誤差劃分方法，包括S1：采集不同光學元件的面形檢測結果，并從各面形檢測結果中提取出對應的全頻段誤差，將各面形檢測結果與對應的全頻段誤差作為訓練數據集對三個誤差提取神經網絡進行訓練；S2：將待測光學元件的面形檢測結果輸入到完成訓練的三個誤差提取神經網絡，經三個誤差提取神經網絡分別提取出待測光學元件面形的各頻段誤差；S3：對面形檢測結果與對應的頻段誤差分別進行一維PSD曲線計算；S4：將兩條一維PSD曲線進行對比，不重合位置的頻率點即為兩個頻段誤差之間的分界點。本發明的頻段誤差劃分方法具有普適性，能夠適用于不同波段，且準確性高。

本發明授權基于數據驅動的光學元件面形頻段誤差劃分方法在權利要求書中公布了：1.一種基于數據驅動的光學元件面形頻段誤差劃分方法，其特征在于，包括如下步驟： S1：利用不同檢測儀器對不同光學元件面形進行檢測得到面形檢測結果數據集，并從面形檢測結果數據集中提取出對應的低頻誤差、中頻誤差和高頻誤差，形成全頻段誤差數據集，將面形檢測結果數據集與全頻段誤差數據集統一打包為訓練數據集，以面形檢測結果數據集誤差作為訓練輸入數據，以頻段誤差作為訓練目標，對低頻誤差提取神經網絡、中頻誤差提取神經網絡和高頻誤差提取神經網絡進行訓練； S2：利用不同檢測儀器對待測光學元件面形進行檢測得到待測光學元的面形檢測結果，并對應輸入到完成訓練的低頻誤差提取神經網絡、中頻誤差提取神經網絡和高頻誤差提取神經網絡中，分別提取出低頻誤差、中頻誤差和高頻誤差作為神經網絡提取結果； S3：對該頻段誤差的單個面形檢測結果進行一維功率譜密度計算，獲得第一一維功率譜密度曲線；以及對某個頻段誤差的單個神經網絡提取結果進行一維功率譜密度計算，獲得第二一維功率譜密度曲線； S4：將第二一維功率譜密度曲線與第一一維功率譜密度曲線進行對比，不重合位置的頻率點即為兩個頻段誤差之間的分界點，從而實現各頻段誤差之間的劃分。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，其通訊地址為：130033 吉林省長春市經濟技術開發區東南湖大路3888號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。