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龍圖騰網(wǎng)獲悉深圳市安信達(dá)存儲技術(shù)有限公司申請的專利存儲設(shè)備的測試方法、電子設(shè)備及測試裝置獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN120183473B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-16發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510638383.3，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G11C29/08；該發(fā)明授權(quán)存儲設(shè)備的測試方法、電子設(shè)備及測試裝置是由李修錄;朱小聰;尹善騰設(shè)計研發(fā)完成，并于2025-05-19向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本存儲設(shè)備的測試方法、電子設(shè)備及測試裝置在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種存儲設(shè)備的測試方法、電子設(shè)備及測試裝置，該方法包括根據(jù)測試順序控制測試裝置對存儲設(shè)備依次進行多個階段的測試；獲取測試數(shù)據(jù)；基于測試數(shù)據(jù)判斷存儲設(shè)備是否通過當(dāng)前階段的測試；控制測試裝置根據(jù)測試順序?qū)Υ鎯υO(shè)備進行下一階段的測試；基于每個階段的測試的測試數(shù)據(jù)生成統(tǒng)計圖表并顯示；獲取生產(chǎn)過程信息；基于每個階段的測試對應(yīng)的最佳數(shù)據(jù)范圍對每個階段的測試數(shù)據(jù)中的測試參數(shù)進行評價，得到評價結(jié)果；基于評價結(jié)果、預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)庫和生產(chǎn)過程信息生成生產(chǎn)過程優(yōu)化建議。本申請能夠一次性測試完存儲設(shè)備的所有參數(shù)，并一次性顯示所有階段的測試數(shù)據(jù)以便用戶進行檢查，自動化程度高，省時省力，從而能夠提高測試效率。

本發(fā)明授權(quán)存儲設(shè)備的測試方法、電子設(shè)備及測試裝置在權(quán)利要求書中公布了：1.一種存儲設(shè)備的測試方法，其特征在于，包括： 在檢測到存儲設(shè)備已位于測試裝置對應(yīng)的測試位上，并接收到啟動指令時，根據(jù)預(yù)設(shè)的測試順序控制所述測試裝置對所述存儲設(shè)備依次進行多個階段的測試，所述多個階段的測試包括電源測試、讀寫性能測試和工作溫度測試； 所述在檢測到存儲設(shè)備已位于測試裝置對應(yīng)的測試位上，并接收到啟動指令時，根據(jù)預(yù)設(shè)的測試順序控制所述測試裝置對所述存儲設(shè)備依次進行多個階段的測試，包括： 在檢測到存儲設(shè)備已位于測試裝置對應(yīng)的測試位上，接收到啟動指令，且根據(jù)所述測試順序確定當(dāng)前階段的測試為電源測試時，基于預(yù)設(shè)的多種測試工況控制所述測試裝置的數(shù)據(jù)操作模塊對所述存儲設(shè)備進行操作，以使所述存儲設(shè)備依次處于多種測試工況，所述測試工況包括空載狀態(tài)、輕負(fù)載狀態(tài)、滿載狀態(tài)和峰值負(fù)載狀態(tài)； 其中，控制數(shù)據(jù)操作模塊對所述存儲設(shè)備進行第一預(yù)設(shè)頻率和第一數(shù)據(jù)量的數(shù)據(jù)讀寫操作，以使所述存儲設(shè)備處于輕負(fù)載狀態(tài)；控制數(shù)據(jù)操作模塊對所述存儲設(shè)備進行第二預(yù)設(shè)頻率和第二數(shù)據(jù)量的數(shù)據(jù)寫入操作，并對所述存儲設(shè)備進行第三預(yù)設(shè)頻率和第三數(shù)據(jù)量的數(shù)據(jù)讀取操作，以使所述存儲設(shè)備處于滿載狀態(tài)；控制數(shù)據(jù)操作模塊對存儲設(shè)備進行第四預(yù)設(shè)頻率和第四數(shù)據(jù)量的數(shù)據(jù)寫入操作，并對所述存儲設(shè)備進行第五預(yù)設(shè)頻率和第五數(shù)據(jù)量的數(shù)據(jù)讀取操作，以使存所述儲設(shè)備處于峰值負(fù)載狀態(tài)； 根據(jù)預(yù)設(shè)的當(dāng)前的測試工況對應(yīng)的供電參數(shù)控制所述測試裝置的供電模塊向所述存儲設(shè)備供電； 其中，根據(jù)空載狀態(tài)對應(yīng)的供電參數(shù)控制所述測試裝置的供電模塊向所述存儲設(shè)備輸出額定電壓，并保持電流維持在最低值，且持續(xù)時間大于第一預(yù)設(shè)時間以排除瞬態(tài)電流波動的影響；根據(jù)輕負(fù)載狀態(tài)對應(yīng)的供電參數(shù)控制所述測試裝置的供電模塊向存儲設(shè)備輸出在第一預(yù)設(shè)電壓范圍內(nèi)波動的電壓；根據(jù)滿載狀態(tài)對應(yīng)的供電參數(shù)控制所述供電模塊向所述存儲設(shè)備輸出在第二預(yù)設(shè)電壓范圍內(nèi)波動的電壓；根據(jù)峰值負(fù)載狀態(tài)對應(yīng)的供電參數(shù)控制所述供電模塊向所述存儲設(shè)備輸出持續(xù)第二預(yù)設(shè)時間的峰值電壓； 在檢測到存儲設(shè)備已位于測試裝置對應(yīng)的測試位上，接收到啟動指令，且根據(jù)所述測試順序確定當(dāng)前階段的測試為讀寫性能測試時，基于多種應(yīng)用場景的讀寫操作模型控制所述測試裝置的數(shù)據(jù)操作模塊對所述存儲設(shè)備進行模擬的每種應(yīng)用場景下的讀寫性能測試，所述應(yīng)用場景包括數(shù)據(jù)庫場景、視頻監(jiān)控場景和高頻操作場景，所述讀寫操作模型包括對應(yīng)的應(yīng)用場景下的寫入操作的數(shù)據(jù)量和執(zhí)行模式以及讀取操作的數(shù)據(jù)量和執(zhí)行模式，所述執(zhí)行模式為根據(jù)預(yù)設(shè)算法計算執(zhí)行操作的時間點并執(zhí)行操作，在所述讀寫操作模型中，寫入操作和讀取操作的具體過程是基于用戶的行為特征確定的； 獲取所述存儲設(shè)備在當(dāng)前階段的測試中產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)； 基于所述測試數(shù)據(jù)判斷所述存儲設(shè)備是否通過當(dāng)前階段的測試； 當(dāng)判斷所述存儲設(shè)備通過當(dāng)前測試時，控制所述測試裝置根據(jù)所述測試順序?qū)λ龃鎯υO(shè)備進行下一階段的測試； 當(dāng)所述存儲設(shè)備通過所有階段的測試時，基于所述存儲設(shè)備在每個階段的測試中產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)生成統(tǒng)計圖表并顯示，所述統(tǒng)計圖表用于表示所述存儲設(shè)備的各個階段的測試數(shù)據(jù)的關(guān)聯(lián)和每個階段的測試數(shù)據(jù)，所述統(tǒng)計圖表包括階段依賴關(guān)系網(wǎng)絡(luò)圖，在所述階段依賴關(guān)系網(wǎng)絡(luò)圖中，一個節(jié)點表示一個測試階段，每個節(jié)點中的子節(jié)點表示所述節(jié)點對應(yīng)的測試階段的一個測試參數(shù)，兩個相鄰節(jié)點之間的節(jié)點邊權(quán)重為兩個相鄰節(jié)點的綜合關(guān)聯(lián)度；兩個相鄰節(jié)點中，一個節(jié)點中的一個子節(jié)點與另一個節(jié)點中的一個子節(jié)點的子節(jié)點邊權(quán)重為兩個子節(jié)點表示的相關(guān)測試參數(shù)組合的關(guān)聯(lián)度； 其中，基于預(yù)設(shè)的各個測試階段的相關(guān)測試參數(shù)組合生成所述階段依賴關(guān)系網(wǎng)絡(luò)圖，所述相關(guān)測試參數(shù)組合是指一個測試階段中的一個測試參數(shù)與另一個測試階段中相關(guān)的一個測試參數(shù)的組合； 獲取生產(chǎn)過程信息； 基于每個階段的測試對應(yīng)的最佳數(shù)據(jù)范圍對每個階段的測試數(shù)據(jù)中的測試參數(shù)進行評價，得到評價結(jié)果； 基于所述評價結(jié)果、預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)庫和所述生產(chǎn)過程信息生成生產(chǎn)過程優(yōu)化建議，所述數(shù)據(jù)庫包括所述測試數(shù)據(jù)中的測試參數(shù)與所述生產(chǎn)過程信息中的生產(chǎn)環(huán)節(jié)的對應(yīng)關(guān)系； 所述基于所述評價結(jié)果、預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)庫和所述生產(chǎn)過程信息生成生產(chǎn)過程優(yōu)化建議，包括： 對每個測試階段中產(chǎn)生的每個測試參數(shù)的評分進行綜合加權(quán)，得到每個所述測試階段的綜合評分； 根據(jù)每個所述測試參數(shù)的評分和最低評分閾值判斷每個所述測試參數(shù)是否可優(yōu)化，并且根據(jù)每個所述測試階段的綜合評分和最低綜合評分閾值判斷每個所述測試階段是否可優(yōu)化； 基于所述數(shù)據(jù)庫和可優(yōu)化的測試參數(shù)或測試階段定位可優(yōu)化的生產(chǎn)環(huán)節(jié)，并基于所述可優(yōu)化的生產(chǎn)環(huán)節(jié)生成對應(yīng)的生產(chǎn)過程優(yōu)化建議。

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