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龍圖騰網(wǎng)獲悉杭州電子科技大學(xué)申請的專利基于OCT和深度學(xué)習(xí)的3D打印缺陷識別方法和系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN118134897B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202410394595.7，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06T7/00；該發(fā)明授權(quán)基于OCT和深度學(xué)習(xí)的3D打印缺陷識別方法和系統(tǒng)是由王玲;范博文;楊珊珊;徐銘恩設(shè)計研發(fā)完成，并于2024-04-02向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本基于OCT和深度學(xué)習(xí)的3D打印缺陷識別方法和系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明提供一種基于OCT和深度學(xué)習(xí)的3D打印缺陷識別方法和系統(tǒng)。根據(jù)OCT系統(tǒng)采集的OCT數(shù)據(jù)，獲取當(dāng)前打印層的基于Gcode信息的2D目標模型圖像和重構(gòu)的OCT打印模型圖像；將上述打印層的2D目標模型圖像和重構(gòu)的OCT打印模型圖像輸入至訓(xùn)練、測試和驗證好后的深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，得到上述打印層的缺陷表征圖；根據(jù)缺陷表征圖調(diào)整OCT系統(tǒng)的打印參數(shù)，對缺陷進行修復(fù)。通過結(jié)合OCT技術(shù)和深度學(xué)習(xí)算法，本發(fā)明能夠?qū)崟r準確地檢測出3D打印過程中的微小缺陷，包括斷絲、欠擠出、過擠出以及拉絲等。

本發(fā)明授權(quán)基于OCT和深度學(xué)習(xí)的3D打印缺陷識別方法和系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于OCT和深度學(xué)習(xí)的3D打印缺陷識別方法，其特征在于包括步驟如下： 步驟（1）、構(gòu)建深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，并對其進行訓(xùn)練、測試和驗證； 1-1獲取同一打印層的基于Gcode信息的2D目標模型圖像和重構(gòu)的OCT打印模型圖像，并標記缺陷標簽，然后分為訓(xùn)練集、測試集和驗證集；所述缺陷標簽采用至少一種缺陷狀態(tài)定義的缺陷表征圖； 所述2D目標模型圖像的獲取具體包括： 1根據(jù)OCT系統(tǒng)的視場大小，在X-Y平面上創(chuàng)建2D目標模型空間； 2從GCode中提取同一Z坐標下的X-Y坐標序列； 3根據(jù)OCT系統(tǒng)數(shù)據(jù)的分辨率，利用X-Y坐標序列生成2D打印路徑； 4根據(jù)GCode中的打印信息結(jié)合2D路徑，生成包含目標打印參數(shù)的2D標準模型圖； 所述重構(gòu)的OCT打印模型圖像的獲取具體包括： 1打印前進行OCT系統(tǒng)的打印平臺測高和打印坐標校準； 2）利用OCT系統(tǒng)采集打印平臺的OCT數(shù)據(jù)并記錄采集坐標； 3）每打印一層，利用OCT系統(tǒng)對當(dāng)前層打印支架進行OCT數(shù)據(jù)采集； 4）對步驟3）采集的OCT數(shù)據(jù)進行處理，分別提取各個OCT數(shù)據(jù)的表面點，之后根據(jù)厚度分布計算公式重構(gòu)打印模型； 所述厚度分布計算公式為： ； 其中為打印平臺OCT數(shù)據(jù)的表面點矩陣；表示打印第層時，打印機相對于未開始打印前沿Z方向下移的像素數(shù)量；為第層OCT數(shù)據(jù)的表面點矩陣；表示OCT數(shù)據(jù)中Z方向空間分辨率； 1-2構(gòu)建深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，并對其進行訓(xùn)練、測試和驗證； 所述深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)采用引入CBAM注意力機制的U-net網(wǎng)絡(luò)； 步驟（2）、根據(jù)OCT系統(tǒng)采集的OCT數(shù)據(jù)，獲取當(dāng)前打印層的基于Gcode信息的2D目標模型圖像和重構(gòu)的OCT打印模型圖像；將上述打印層的2D目標模型圖像和重構(gòu)的OCT打印模型圖像輸入至訓(xùn)練、測試和驗證好后的深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，得到上述打印層的缺陷表征圖； 步驟（3）、根據(jù)缺陷表征圖調(diào)整OCT系統(tǒng)的打印參數(shù)，對缺陷進行修復(fù)。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人杭州電子科技大學(xué)，其通訊地址為：310018 浙江省杭州市下沙高教園區(qū)2號大街；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。