華中科技大學計效園獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉華中科技大學申請的專利鑄件X射線探傷16位灰度圖像自適應增強方法及系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN120107137B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202510277487.6,技術領域涉及:G06T5/92;該發(fā)明授權(quán)鑄件X射線探傷16位灰度圖像自適應增強方法及系統(tǒng)是由計效園;侯明君;李碩宏;董淏;周建新;殷亞軍;沈旭設計研發(fā)完成,并于2025-03-10向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本鑄件X射線探傷16位灰度圖像自適應增強方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了:本申請屬于圖像處理技術領域,公開鑄件X射線探傷16位灰度圖像自適應增強方法及系統(tǒng),方法包括:將16位灰度圖像劃分為多個灰度子區(qū)間和多個子圖,并將每個灰度子區(qū)間和每個子圖分別映射為8位圖像;對8位灰度圖增強處理后合并,對每張8位子圖像增強處理;評估增強灰度圖的圖像質(zhì)量,獲得第一評估結(jié)果;評估每張增強子圖的圖像質(zhì)量,并獲取所有評估結(jié)果的平均值作為第二評估結(jié)果;將兩個評估結(jié)果作為目標評估函數(shù),對增強灰度圖和增強子圖的參數(shù)組合尋優(yōu),獲得對應的評估分數(shù)、最優(yōu)參數(shù)及最優(yōu)參數(shù)對應的增強圖像;將最大評估分數(shù)對應的增強圖像作為最終增強圖像。本申請能提高16位灰度圖像的質(zhì)量,避免細小缺陷漏檢誤檢的問題。
本發(fā)明授權(quán)鑄件X射線探傷16位灰度圖像自適應增強方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了:1.鑄件X射線探傷16位灰度圖像自適應增強方法,其特征在于,包括: S1將16位灰度圖像劃分為多個灰度子區(qū)間,并將每個灰度子區(qū)間映射為8位灰度圖;將所述16位灰度圖像劃分為多個子圖,并將每個子圖映射為8位子圖像; S2對所述8位灰度圖增強處理后合并,獲得增強灰度圖;對每張8位子圖像增強處理,獲得增強子圖; S3評估所述增強灰度圖的圖像質(zhì)量,獲得第一評估結(jié)果;評估每張增強子圖的圖像質(zhì)量,并獲取所有評估結(jié)果的平均值作為第二評估結(jié)果; S4將所述第一評估結(jié)果和所述第二評估結(jié)果分別作為目標評估函數(shù),對所述增強灰度圖和所有增強子圖的參數(shù)組合分別進行尋優(yōu),獲得各自對應的評估分數(shù)、最優(yōu)參數(shù)及所述最優(yōu)參數(shù)對應的增強圖像;比較兩個評估分數(shù),將最大評估分數(shù)對應的增強圖像輸出為最終增強圖像。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人華中科技大學,其通訊地址為:430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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