成都博視達科技有限公司閆大慶獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉成都博視達科技有限公司申請的專利一種面板mura缺陷檢測方法、系統(tǒng)及介質獲國家發(fā)明授權專利權,本發(fā)明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120336559B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉:該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為:202510764764.6,技術領域涉及:G06F16/50;該發(fā)明授權一種面板mura缺陷檢測方法、系統(tǒng)及介質是由閆大慶;母鑫;李強;王浩設計研發(fā)完成,并于2025-06-10向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種面板mura缺陷檢測方法、系統(tǒng)及介質在說明書摘要公布了:本發(fā)明屬于缺陷檢測技術領域,公開了一種面板mura缺陷檢測方法、系統(tǒng)及介質,所述方法包括:獲取面板圖像,對面板圖像進行預處理,得到灰度圖像;基于小波變換對灰度圖像進行小波分解,得到小波域的圖像;基于自適應閾值函數對小波域圖像進行增強,得到小波域的增強圖像;將小波域的增強圖像轉換到空間域,得到空間域圖像;對空間域圖像進行后處理,得到mura缺陷檢測結果。本發(fā)明將灰度圖像轉到的小波域,再利用自適應閾值函數對小波域圖像進行增強,能有效消除噪聲干擾;接著將圖像從小波域轉換到空間域,并對空間域圖像進行后處理,以克服圖像背景的亮度影響;因此,本發(fā)明的檢測方法能有效提高mura缺陷檢測的準確度和魯棒性。
本發(fā)明授權一種面板mura缺陷檢測方法、系統(tǒng)及介質在權利要求書中公布了:1.一種面板mura缺陷檢測方法,其特征在于,所述方法包括: 獲取面板圖像,對面板圖像進行預處理,得到灰度圖像; 基于小波變換對灰度圖像進行小波分解,得到小波域的圖像; 基于自適應閾值函數對小波域圖像進行增強,得到小波域的增強圖像,包括:提取小波域的圖像的細節(jié)系數;基于自適應閾值函數對細節(jié)系數進行增強,得到增強后的細節(jié)系數;所述自適應閾值函數的表達式為: ; ; 式中,為自適應閾值函數,為閾值,N為小波變換的小波系數的長度,為小波變換的小波系數的均方根誤差,j為小波變換的小波分解的層數,為第j層的第k個細節(jié)系數,為可調系數,ln為自然對數函數,log10為以10為底的對數函數;所述增強后的細節(jié)系數的計算表達式為: ; 式中,為第j層的第k個細節(jié)系數,為增強后的細節(jié)系數,為預設系數,sgn為符號函數,為自適應閾值函數,為閾值;基于增強后的細節(jié)系數,得到小波域的增強圖像; 將小波域的增強圖像轉換到空間域,得到空間域圖像; 對空間域圖像進行后處理,得到mura缺陷檢測結果。
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