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龍圖騰網獲悉中國科學院上海微系統與信息技術研究所申請的專利用于量子電壓基準的超導結陣列的量化分析方法及電路獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120468629B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510965948.9，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權用于量子電壓基準的超導結陣列的量化分析方法及電路是由李浩;溫光洪設計研發完成，并于2025-07-14向國家知識產權局提交的專利申請。

本用于量子電壓基準的超導結陣列的量化分析方法及電路在說明書摘要公布了：本發明提供一種用于量子電壓基準的超導結陣列的量化分析方法：首先，提供m組約瑟夫森結陣列，并設定m組約瑟夫森結陣列所對應的離散參數；其次，為任意一組約瑟夫森結陣列施加微波電流和偏置電流，得到偏置電流與輸出電壓之間的第一對應關系；再次，調整微波電流幅值，得到不同微波電流幅值對應的第a個Shapiro臺階的不同高度，并找到約瑟夫森結陣列中第a個Shapiro臺階的最大高度；最后，得到m組約瑟夫森結陣列所對應的第a個Shapiro臺階的最大高度，并建立各約瑟夫森結陣列的離散參數和對應的第a個Shapiro臺階的最大高度之間的第三對應關系。此外，本發明的超導結陣列的電路結構簡單且易于實現，并可以實現本發明的用于量子電壓基準的超導結陣列的量化分析方法。

本發明授權用于量子電壓基準的超導結陣列的量化分析方法及電路在權利要求書中公布了：1.一種用于量子電壓基準的超導結陣列的量化分析方法，其特征在于，所述用于量子電壓基準的超導結陣列的量化分析方法至少包括以下步驟： S1：提供m組約瑟夫森結陣列，各約瑟夫森結陣列均包括n個約瑟夫森結，n、m均為大于等于2的自然數；設定各約瑟夫森結陣列所具備的離散參數； S2：為任意一組約瑟夫森結陣列提供微波電流和偏置電流，得到n個約瑟夫森結的輸出電壓之和，建立偏置電流與輸出電壓之和之間的第一對應關系； S3：調整所述微波電流的幅值，并重復步驟S2，得到不同所述微波電流幅值下不同的第一對應關系，不同第一對應關系中第a個Shapiro臺階的高度不同，建立所述微波電流幅值與對應的第a個Shapiro臺階高度之間的第二對應關系，并得到所述約瑟夫森結陣列中第a個Shapiro臺階的最大高度；其中，a為大于等于1的自然數； S4：選擇下一組約瑟夫森結陣列，返回步驟S2，直至m組約瑟夫森結陣列選擇完畢，得到m組約瑟夫森結陣列對應的第a個Shapiro臺階的最大高度，并建立各約瑟夫森結陣列的所述離散參數與對應的第a個Shapiro臺階的最大高度的第三對應關系，基于所述第三對應關系測量量子電壓基準。

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