買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標(biāo)用IPTOP,全免費(fèi)！專利年費(fèi)監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)獲悉北京理工大學(xué)申請(qǐng)的專利一種基于集成學(xué)習(xí)的端云協(xié)同代碼缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN114490397B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-09-09發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202210107064.6，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F11/3604；該發(fā)明授權(quán)一種基于集成學(xué)習(xí)的端云協(xié)同代碼缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)是由計(jì)衛(wèi)星;李思宇;劉天陽;王一拙;劉法旺;高玉金設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2022-01-28向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種基于集成學(xué)習(xí)的端云協(xié)同代碼缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種基于集成學(xué)習(xí)的端云協(xié)同代碼缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)，代碼缺陷檢測(cè)方法包括以下步驟，采集第一測(cè)試樣本的第一缺陷代碼，獲取第一缺陷代碼的第一缺陷特征以及第一缺陷特征對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試樣本；基于待測(cè)代碼和第二測(cè)試樣本的相似度，獲取第三測(cè)試樣本以及第三測(cè)試樣本的第二缺陷特征；根據(jù)第二缺陷特征和第三測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)的第一缺陷特征，獲取待測(cè)代碼的識(shí)別準(zhǔn)確率；基于識(shí)別準(zhǔn)確率，通過采集待測(cè)代碼的第二缺陷代碼，獲取第二缺陷代碼的第三缺陷特征；通過端云協(xié)同的技術(shù)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)待測(cè)代碼的缺陷檢測(cè)；本發(fā)明有效的保護(hù)了用戶的知識(shí)產(chǎn)權(quán)，并且能夠獲得較高的缺陷檢測(cè)準(zhǔn)確率。

本發(fā)明授權(quán)一種基于集成學(xué)習(xí)的端云協(xié)同代碼缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種基于集成學(xué)習(xí)的端云協(xié)同代碼缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟： 采集第一測(cè)試樣本的第一缺陷代碼，獲取所述第一缺陷代碼的第一缺陷特征以及所述第一缺陷特征對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試樣本； 基于待測(cè)代碼和所述第二測(cè)試樣本的相似度，獲取第三測(cè)試樣本以及所述第三測(cè)試樣本的第二缺陷特征； 根據(jù)所述第二缺陷特征和所述第三測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)的所述第一缺陷特征，獲取所述待測(cè)代碼的識(shí)別準(zhǔn)確率； 基于所述識(shí)別準(zhǔn)確率，通過采集所述待測(cè)代碼的第二缺陷代碼，獲取所述第二缺陷代碼的第三缺陷特征，其中，所述第三缺陷特征用于表示所述待測(cè)代碼的代碼缺陷； 將所述第一缺陷特征、所述第二缺陷特征、所述第三缺陷特征以及所述第一測(cè)試樣本、所述第二測(cè)試樣本、所述第一缺陷代碼、所述第二缺陷代碼部署在云端，用戶端分析所述待測(cè)代碼的缺陷特征，并上傳至所述云端，所述云端用于通過識(shí)別所述缺陷特征，獲取所述待測(cè)代碼的所述代碼缺陷并回傳至所述用戶端； 在采集第一測(cè)試樣本的第一缺陷代碼的過程中，通過若干種代碼缺陷檢測(cè)工具對(duì)所述第一測(cè)試樣本進(jìn)行檢測(cè)，獲取所述第一缺陷代碼，其中，所述第一測(cè)試樣本包括若干種代碼缺陷； 在獲取所述第一缺陷代碼的過程中，通過人工標(biāo)注的方法，對(duì)所述第一測(cè)試樣本進(jìn)行標(biāo)注，根據(jù)標(biāo)注結(jié)果與每種所述代碼缺陷進(jìn)行比對(duì)，獲取所述第一缺陷特征和所述第二測(cè)試樣本； 在獲取第三測(cè)試樣本以及所述第三測(cè)試樣本的第二缺陷特征的過程中，將所述相似度從高到低排名，獲取相似度最高的所述第二測(cè)試樣本作為所述第三測(cè)試樣本； 獲取所述第三測(cè)試樣本對(duì)應(yīng)的所述第一缺陷特征，作為第四缺陷特征； 根據(jù)所述第四缺陷特征對(duì)應(yīng)的所述代碼缺陷檢測(cè)工具，對(duì)所述第三測(cè)試樣本進(jìn)行檢測(cè)，獲取所述第二缺陷特征； 根據(jù)所述第四缺陷特征和所述第二缺陷特征，獲取所述識(shí)別準(zhǔn)確率； 在獲取所述第二缺陷代碼的第三缺陷特征的過程中，通過所述代碼缺陷檢測(cè)工具對(duì)所述待測(cè)代碼進(jìn)行測(cè)試，獲取所述第二缺陷代碼以及所述第二缺陷代碼對(duì)應(yīng)的第二準(zhǔn)確識(shí)別結(jié)果； 將所述第二準(zhǔn)確識(shí)別結(jié)果和所述識(shí)別準(zhǔn)確率進(jìn)行加權(quán)求和，根據(jù)加權(quán)求和結(jié)果，獲取所述第三缺陷特征，其中，所述第三缺陷特征對(duì)應(yīng)的所述加權(quán)求和結(jié)果大于預(yù)先設(shè)置的閾值。

如需購(gòu)買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)＠麢?quán)人北京理工大學(xué)，其通訊地址為：100081 北京市海淀區(qū)中關(guān)村南大街5號(hào)；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。