中國科學院長春光學精密機械與物理研究所谷茜茜獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國科學院長春光學精密機械與物理研究所申請的專利一種差異化控制位姿敏感度的光學系統優化設計方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120405944B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510851764.X,技術領域涉及:G02B27/00;該發明授權一種差異化控制位姿敏感度的光學系統優化設計方法是由谷茜茜;李曉波;白曉泉;楊勛;姜禹希;班章;沐陽設計研發完成,并于2025-06-24向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種差異化控制位姿敏感度的光學系統優化設計方法在說明書摘要公布了:本發明涉及光學設計技術領域,具體提供一種差異化控制位姿敏感度的光學系統優化設計方法,首先根據指標要求確定光學系統初始結構,并對系統像質初步優化,再基于矢量像差理論獲取存在位姿失調量條件下的光學系統像差,并據此獲取任意視場點的特定類型像差系數對不同位姿失調量的敏感度,構建系統位姿敏感度與系統結構參數的解析關系,構建單視場和全視場的位姿敏感度評價函數,最后,將評價函數轉換為宏語言,加載至光學系統優化評價函數,對光學系統的位姿敏感度進行差異化優化。本發明通過直接構建位姿失調量與光學系統結構參數之間的關系,極大提高了系統優化效率,并且能夠針對不同位姿進行差異化控制。
本發明授權一種差異化控制位姿敏感度的光學系統優化設計方法在權利要求書中公布了:1.一種差異化控制位姿敏感度的光學系統優化設計方法,其特征在于,包括: 基于矢量像差理論,獲取存在位姿失調量條件下的光學系統像差; 依據所述存在位姿失調量條件下的光學系統像差獲取任意視場點的特定類型像差系數對不同位姿失調量的敏感度; 依據所述任意視場點的特定類型像差系數對不同位姿失調量的敏感度構建任意單視場位姿敏感度評價函數,通過加權方式構建光學系統的全視場位姿敏感度評價函數,利用所述全視場位姿敏感度評價函數對光學系統的位姿敏感度進行差異化優化; 所述單視場位姿敏感度評價函數為: ; 其中,表示位姿失調量第個自由度的權重因子,表示視場點的任意第個位姿敏感度的目標值,表示位姿失調量的第個自由度矢量,表示像散分量,,表示彗差分量,,表示第個光學表面的像散系數與位姿失調量的關系函數,表示第個光學表面的球差系數與位姿失調量的關系函數,表示第個光學表面的慧差系數與位姿失調量的關系函數,表示歸一化視場矢量,表示歸一化光瞳矢量,表示歸一化光瞳離軸矢量,表示第個光學表面的像差場中心偏移矢量。
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