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龍圖騰網獲悉天水華洋電子科技股份有限公司申請的專利一種用于集成電路檢測的數據處理方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120368911B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-09發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510863247.4，技術領域涉及：G01B21/16；該發明授權一種用于集成電路檢測的數據處理方法及系統是由康小明;蒲云祥;董金虎;馮麗娟;丁軍保;鞏亞萍;楊亞雄;王斌斌設計研發完成，并于2025-06-25向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種用于集成電路檢測的數據處理方法及系統在說明書摘要公布了：本發明涉及芯片檢測技術領域，公開了一種用于集成電路檢測的數據處理方法及系統。本發明通過引腳間距的橫、縱向誤差控制，確保芯片引腳排列的幾何穩定性；其次引入引腳彎曲度的檢測與容忍機制，兼顧制造公差與實際裝配需求，避免因微小變形造成不必要的報廢；再結合引腳與主板孔洞尺寸匹配及接觸面積的判定，綜合評估機械與電氣接觸的充分性，尤其通過引腳最大直徑與孔洞直徑的差值判斷插入狀態，確保連接的緊密性和穩定性；最后，針對引腳最大直徑大于孔洞直徑時引發的芯片傾斜問題，通過傾斜角度測量進一步保障芯片頂部平面與散熱器的良好接觸條件，確保散熱性能不受影響。

本發明授權一種用于集成電路檢測的數據處理方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種用于集成電路檢測的數據處理方法，其特征在于，包括： 步驟一，獲取每一個引腳與其附近的引腳之間的距離，將其與縱向附近引腳之間的距離記為縱向引腳距離、其與橫向附近引腳之間的距離記為橫向引腳距離，所有橫向引腳距離相加后取其平均值得到平均橫向引腳距離，同理得到平均縱向引腳距離，利用平均橫向引腳距離減去平均縱向引腳距離得到縱橫引腳誤差； 步驟二，根據參數要求設置縱橫引腳誤差閾值，將縱橫引腳誤差與縱橫引腳誤差閾值進行比較，若縱橫引腳誤差小于等于縱橫引腳誤差閾值，代表引腳在橫向和縱向上相互間的距離保持一致，這種情況下，芯片的引腳距離檢測合格；若縱橫引腳誤差大于縱橫引腳誤差閾值，代表距離不一致，這種情況下，芯片的引腳距離檢測不合格； 步驟三，獲取芯片的每一個引腳的彎曲度，并設置彎曲度閾值，將每一個引腳的彎曲度分別與彎曲度閾值進行比較，若引腳的彎曲度小于等于彎曲度閾值，代表這個引腳的彎曲度在標準范圍內，這種情況下，這個引腳的彎曲度檢測合格；若引腳的彎曲度大于彎曲度閾值，代表這個引腳的彎曲度超過標準范圍，這種情況下，這個引腳的彎曲度檢測不合格，當且僅當所有引腳的彎曲度檢測合格的時候，芯片的引腳彎曲度檢測合格； 步驟四，若存在彎曲度檢測不合格的引腳，獲取引腳彎曲度檢測不合格的數量，記為彎曲度不合格引腳； 步驟五，設置彎曲度不合格引腳容忍閾值，將彎曲度不合格引腳的數量與彎曲度不合格引腳容忍閾值進行比較，若彎曲度不合格引腳的數量小于等于彎曲度不合格引腳容忍閾值，代表彎曲度不合格引腳的數量在容忍限度內，這種情況下，再次分析彎曲度不合格引腳的彎曲程度，以判斷引腳是否能夠與主板的孔洞插接；若彎曲度不合格引腳的數量大于彎曲度不合格引腳容忍閾值，代表彎曲度不合格引腳的數量超過容忍限度，這種情況下，維持芯片的引腳彎曲度檢測不合格。

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