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龍圖騰網獲悉山東岱微電子有限公司申請的專利DDR信號質量的測試方法、測試裝置與測試設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114283876B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202111603654.X，技術領域涉及：G11C29/56；該發明授權DDR信號質量的測試方法、測試裝置與測試設備是由鄧冏;蔣增城設計研發完成，并于2021-12-24向國家知識產權局提交的專利申請。

本DDR信號質量的測試方法、測試裝置與測試設備在說明書摘要公布了：本申請提供了一種DDR信號質量的測試方法、測試裝置與測試設備，該方法包括：獲取芯片在輕載工作模式下的DDR待測信號的de?skew值，將所述de?skew值作為所述DDR待測信號窗口掃描的初始中心值；控制所述de?skew值以所述初始中心值為中心變化，直至所述芯片無法正常工作，得到窗口邊界值；根據所述窗口邊界值確定所述DDR待測信號的窗口大小。該方法調整DDR信號的de?skew值來確定de?skew值的最大值和最小值，從而得到DDR信號的窗口大小，DDR信號的窗口越大，DDR信號的信號質量越好，無需對信號線刮線、焊接等操作，簡化了測試操作，解決現有技術中DDR信號質量測試方法過于復雜的問題。

本發明授權DDR信號質量的測試方法、測試裝置與測試設備在權利要求書中公布了：1.一種DDR信號質量的測試方法，其特征在于，包括： 獲取芯片在輕載工作模式下的DDR待測信號的de-skew值，將所述de-skew值作為所述DDR待測信號窗口掃描的初始中心值，所述輕載工作模式為所述芯片的負載率小于第一預定值的工作模式； 控制所述de-skew值以所述初始中心值為中心變化，直至所述芯片無法正常工作，得到窗口邊界值； 根據所述窗口邊界值確定所述DDR待測信號的窗口大小； 所述控制所述初始中心值變化，直至所述芯片無法正常工作，得到窗口邊界值，包括： 控制所述DDR待測信號的de-skew值從所述初始中心值遞增，直至所述芯片無法正常工作，得到窗口最大值； 控制所述DDR待測信號的de-skew值從所述初始中心值遞減，直至所述芯片無法正常工作，得到窗口最小值； 在獲取芯片在輕載工作模式下的DDR待測信號的de-skew值，將所述de-skew值作為所述DDR待測信號窗口掃描的初始中心值之后，控制所述de-skew值，以所述初始中心值為中心變化，直至所述芯片無法正常工作，得到窗口邊界值之前，所述方法還包括： 控制所述芯片進入重載工作模式，所述重載工作模式為所述芯片的負載率大于第二預定值的工作模式，所述第二預定值大于或者等于所述第一預定值。

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