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龍圖騰網(wǎng)獲悉上海交通大學(xué)申請的專利一種高分辨率散射光譜顆粒粒徑測量方法和系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN115112533B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202210897444.4，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N15/0227；該發(fā)明授權(quán)一種高分辨率散射光譜顆粒粒徑測量方法和系統(tǒng)是由黃梅珍;王志輝;劉天元;于新娜設(shè)計研發(fā)完成，并于2022-07-28向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種高分辨率散射光譜顆粒粒徑測量方法和系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明提供一種高分辨率散射光譜顆粒粒徑測量方法和系統(tǒng)，該方法包括：基于Mie散射理論，引入角散射效率因子對待測顆粒的散射光譜進(jìn)行模擬，根據(jù)散射光譜中譜峰位移與顆粒粒徑和散射角的關(guān)系，選取所要觀測的散射譜峰和散射角度；根據(jù)散射光譜中譜峰位移與顆粒粒徑和散射角的關(guān)系，建立譜峰峰值波長與顆粒粒徑的關(guān)系作為定標(biāo)模型；測量待測顆粒的散射光譜，并利用所述定標(biāo)模型確定待測顆粒粒徑。本發(fā)明只需對測量的散射光譜進(jìn)行譜峰定位即可實現(xiàn)粒徑測量，數(shù)據(jù)處理簡便，且具有極高的測量分辨率。

本發(fā)明授權(quán)一種高分辨率散射光譜顆粒粒徑測量方法和系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種高分辨率散射光譜顆粒粒徑測量方法，其特征在于，包括： 基于Mie散射理論，引入角散射效率因子對待測顆粒的散射光譜進(jìn)行模擬，根據(jù)散射光譜中譜峰位移與顆粒粒徑和散射角的關(guān)系，選取所要觀測的散射譜峰和散射角度； 根據(jù)散射光譜中譜峰位移與顆粒粒徑和散射角的關(guān)系，建立譜峰峰值波長與顆粒粒徑的關(guān)系作為定標(biāo)模型； 測量待測顆粒的散射光譜，并利用所述定標(biāo)模型確定待測顆粒粒徑； 其中，所述根據(jù)散射光譜中譜峰位移與顆粒粒徑和散射角的關(guān)系，選取所要觀測的散射譜峰和散射角度，包括： 將散射光譜的譜峰按照峰寬由大到小的順序標(biāo)記為：P1、P2、P3……Pn；按照粒徑測量分辨率從高至低的順序，自最寬峰P1依次選取所要觀測的散射譜峰進(jìn)行波長定位進(jìn)而測量顆粒粒徑；按照粒徑測量量程從大到小的順序，自最窄峰Pn依次選取所要觀測的散射譜峰進(jìn)行波長定位進(jìn)而測量顆粒粒徑；所要觀測的散射譜峰根據(jù)測量分辨率和量程共同確定。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人上海交通大學(xué)，其通訊地址為：200240 上海市閔行區(qū)東川路800號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。