買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉浙江農林大學申請的專利一種自聚焦環形艾里光束陣列的優化設計方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115408850B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211036898.9，技術領域涉及：G06F30/20；該發明授權一種自聚焦環形艾里光束陣列的優化設計方法及系統是由周國泉;臧翔;但汶松;倪涌舟;周益民;徐一清設計研發完成，并于2022-08-25向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種自聚焦環形艾里光束陣列的優化設計方法及系統在說明書摘要公布了：本發明涉及一種自聚焦環形艾里光束陣列的優化設計方法及系統，屬于光束陣列設計領域，該方法采用最大光強表征環形艾里光束陣列的自聚焦能力，根據環形艾里光束陣列的自聚焦能力與艾里光束數目的關聯關系，確定環形艾里光束陣列的自聚焦能力達到飽和時所對應的艾里光束數目為最優值，當艾里光束數目取最優值時，環形艾里光束陣列在給定的光束參數條件下具有最大的自聚焦能力。因此，本發明克服了艾里光束數目的盲目取值，做到艾里光束數目的科學取值，保證環形艾里光束陣列具有最大的自聚焦能力，同時避免了盲目增加光束數目。

本發明授權一種自聚焦環形艾里光束陣列的優化設計方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種自聚焦環形艾里光束陣列的優化設計方法，其特征在于，所述方法包括： 確定環形艾里光束陣列在初始平面上的電場分布表達式；所述環形艾里光束陣列由艾里光束在初始平面上繞旋轉軸旋轉多次后所形成； 根據所述電場分布表達式，確定環形艾里光束陣列在自由空間傳輸時的電場解析表達式； 根據所述電場解析表達式，確定環形艾里光束陣列在光束傳輸方向軸上點電場的簡化表達式； 利用所述軸上點電場的簡化表達式，在給定光束參數條件下計算不同艾里光束數目對應的環形艾里光束陣列在自由空間傳輸時焦平面上的最大光強，并繪制最大光強隨艾里光束數目的變化關系曲線；所述最大光強用于表征環形艾里光束陣列的自聚焦能力； 在所述變化關系曲線上選取最大光強首次出現最大值時的艾里光束數目，并確定為在給定光束參數條件下環形艾里光束陣列自聚焦能力飽和時的最優艾里光束數目； 所述軸上點電場的簡化表達式為 式中，E0,0,z表示環形艾里光束陣列在自由空間傳輸時光束傳輸方向軸上點的電場分布；N為艾里光束數目，N為大于1的正整數；n表示第n個艾里光束；A為光強控制參數，A使得環形艾里光束陣列在初始平面上的最大光強為1；a為指數衰減因子；c為偏心距離；w0為尺度因子；z為直角坐標系中的z軸上的坐標值；z軸既是光束傳輸的方向，又是艾里光束的旋轉軸；z0表示瑞利距離，k表示波數；i表示虛數單位；Ai·為艾里函數； 利用所述軸上點電場的簡化表達式，在給定光束參數條件下計算不同艾里光束數目對應的環形艾里光束陣列在自由空間傳輸時焦平面上的最大光強，具體包括： 利用公式zf＝2kw0w0xp12確定焦平面的位置；式中，zf表示焦平面的位置，xp表示環形艾里光束陣列在初始平面x軸正方向上第一個峰值強度的位置； 根據焦平面的位置和所述軸上點電場的簡化表達式，確定環形艾里光束陣列在自由空間傳輸時焦平面上的最大光強表達式為I0,0,zf＝|E0,0,zf|2；式中，I0,0,zf表示環形艾里光束陣列在自由空間傳輸時焦平面上的最大光強，E0,0,zf表示環形艾里光束陣列在自由空間傳輸時焦平面軸上點的電場； 改變艾里光束數目N，并在給定光束參數條件下將每一個艾里光束數目代入最大光強表達式，獲得每一個艾里光束數目對應的最大光強。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人浙江農林大學，其通訊地址為：311300 浙江省杭州市臨安區武肅街666號浙江農林大學；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。