清華大學深圳國際研究生院錢翔獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉清華大學深圳國際研究生院申請的專利一種用于質譜儀的高分辨隔離目標離子的方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115527832B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211120157.9，技術領域涉及：H01J49/06；該發明授權一種用于質譜儀的高分辨隔離目標離子的方法是由錢翔;丁欣悅;余泉;王曉浩設計研發完成，并于2022-09-15向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種用于質譜儀的高分辨隔離目標離子的方法在說明書摘要公布了：一種用于質譜儀的高分辨隔離目標離子的方法，包括如下步驟：S1、根據被隔離離子的運動頻率確定SWIFT波形；S2、在所述SWIFT波形上疊加正弦波形得到SWIFTSIN隔離波形，其中所述正弦波形的頻率對應被隔離離子臨近離子的運動頻率；S3、在質譜儀上施加所述SWIFTSIN隔離波形，其中，通過所述SWIFTSIN隔離波形中的所述SWIFT波形完成粗隔離過程，將距離目標離子較遠質荷比的離子激發掉而留下目標離子及鄰近質荷比的離子，其中，通過所述SWIFTSIN隔離波形中的所述正弦波形完成對被隔離離子臨近離子的激發。該方法能夠降低現場檢測小型化質譜儀的空間電荷效應，有利提升譜圖分辨率及提升儀器的定量分析能力，提升現場檢測效率。
本發明授權一種用于質譜儀的高分辨隔離目標離子的方法在權利要求書中公布了：1.一種用于質譜儀的高分辨隔離目標離子的方法，其特征在于，包括如下步驟： S1、根據被隔離離子的運動頻率確定SWIFT波形； S2、在所述SWIFT波形上疊加正弦波形得到SWIFTSIN隔離波形，其中所述正弦波形的頻率對應被隔離離子臨近離子的運動頻率； S3、在質譜儀上施加所述SWIFTSIN隔離波形，其中，通過所述SWIFTSIN隔離波形中的所述SWIFT波形完成粗隔離過程，將距離目標離子較遠質荷比的離子激發掉而留下目標離子及鄰近質荷比的離子，其中，通過所述SWIFTSIN隔離波形中的所述正弦波形完成對被隔離離子臨近離子的激發；其中，在所述SWIFT波形完成粗隔離之后，再施加所述正弦波形完成細隔離過程；其中，所述SWIFT波形的相位參數經調節以將波形的能量壓縮在周期的前半部分，在后半部分疊加所述正弦波形。
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