北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司郭開龍獲國家專利權
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龍圖騰網(wǎng)獲悉北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司申請的專利半導體工藝設備、其升降機構及其控制方法獲國家發(fā)明授權專利權,本發(fā)明授權專利權由國家知識產(chǎn)權局授予,授權公告號為:CN114551302B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權授權公告中獲悉:該發(fā)明授權的專利申請?zhí)?專利號為:202210158380.6,技術領域涉及:H01L21/67;該發(fā)明授權半導體工藝設備、其升降機構及其控制方法是由郭開龍設計研發(fā)完成,并于2022-02-21向國家知識產(chǎn)權局提交的專利申請。
本半導體工藝設備、其升降機構及其控制方法在說明書摘要公布了:本申請公開一種半導體工藝設備、其升降機構及其控制方法,屬于半導體設備技術領域。半導體工藝設備包括反應腔室,所述升降機構設置于所述反應腔室的下方,所述升降機構包括伺服電機、頂針和拉壓力檢測件;所述拉壓力檢測件的一端與所述伺服電機的驅動端連接,所述拉壓力檢測件的另一端與所述頂針連接,用于檢測所述頂針所受的拉壓力。該方案能夠解決粘片檢測精度較低的問題。
本發(fā)明授權半導體工藝設備、其升降機構及其控制方法在權利要求書中公布了:1.一種半導體工藝設備的升降機構,所述半導體工藝設備包括反應腔室,其特征在于,所述升降機構設置于所述反應腔室的下方,所述升降機構包括伺服電機、頂針(130)和拉壓力檢測件(140); 所述拉壓力檢測件(140)的一端與所述伺服電機的驅動端連接,所述拉壓力檢測件(140)的另一端與所述頂針(130)連接,用于檢測所述頂針(130)所受的拉壓力; 所述頂針(130)的移動方向為第一方向; 所述升降機構還包括傳動組件,所述傳動組件包括第一傳動件(150)和第二傳動件(160),所述第一傳動件(150)與所述頂針(130)相連,所述第二傳動件(160)與所述驅動端相連; 所述拉壓力檢測件(140)的一端與所述第一傳動件(150)相連,所述拉壓力檢測件(140)的另一端與所述第二傳動件(160)相連; 所述傳動組件還包括第一限位件(152)和第二限位件(161),所述第一限位件(152)和所述第二限位件(161)中的一者設置于所述第一傳動件(150)朝向所述第二傳動件(160)的表面上,另一者設置于所述第二傳動件(160)朝向所述第一傳動件(150)的表面上; 在所述第一方向上,所述第一限位件(152)和所述第二限位件(161)之間以及所述第一限位件(152)和用于設置所述第二限位件(161)的所述第一傳動件(150)或所述第二傳動件(160)之間均具有間隙,所述間隙用于使所述第一傳動件(150)和所述第二傳動件(160)之間在所述第一方向上沒有力傳遞。
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