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龍圖騰網(wǎng)獲悉杭州行芯科技有限公司申請的專利抗干擾度測定、求解方法、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN120217972B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510678691.9，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F30/3308；該發(fā)明授權(quán)抗干擾度測定、求解方法、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)是由請求不公布姓名設(shè)計研發(fā)完成，并于2025-05-23向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本抗干擾度測定、求解方法、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)在說明書摘要公布了：本申請涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種抗干擾度測定、求解方法、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)，其中，通過設(shè)置電路單元的電路模型和仿真參數(shù)表，從而能夠基于仿真參數(shù)表內(nèi)參數(shù)組中的脈沖參數(shù)值和負(fù)載值，對電路模型進行動態(tài)仿真，得到電路模型在參數(shù)組下的輸出信號，進而根據(jù)電路模型的輸出信號的幅值，測定所述電路單元的抗干擾度，實現(xiàn)對電路單元的抗干擾度的準(zhǔn)確測定和批量測定，該抗干擾度測定方法能夠覆蓋大量的應(yīng)用場景，具有較強的適用性。

本發(fā)明授權(quán)抗干擾度測定、求解方法、計算機設(shè)備及存儲介質(zhì)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種抗干擾度測定方法，其特征在于，所述方法包括： 設(shè)置電路單元的電路模型和仿真參數(shù)表；其中，所述仿真參數(shù)表包括多個參數(shù)組；其中，所述仿真參數(shù)表用于容納批量生成的多種仿真情形，所述多種仿真情形是利用多個負(fù)載和多個脈沖參數(shù)進行情形組合而批量生成的；所述參數(shù)組包括脈沖參數(shù)值和負(fù)載值，所述脈沖參數(shù)值用于描述所述電路模型的輸入端的仿真噪聲波形，所述負(fù)載值用于描述連接至所述電路模型的輸出端的仿真負(fù)載； 基于所述參數(shù)組中的脈沖參數(shù)值和負(fù)載值，對所述電路模型進行動態(tài)仿真，得到所述電路模型在所述參數(shù)組下的輸出信號； 根據(jù)所述電路模型的輸出信號的幅值，測定所述電路單元的抗干擾度；其中，所述抗干擾度是在同時考慮負(fù)載和脈沖參數(shù)的情況下而測定的； 其中，所述脈沖參數(shù)值包括脈沖高度值；通過以下方式確定所述脈沖高度值，包括：針對首輪的仿真，根據(jù)噪聲脈沖的噪聲信號類型，在接地電壓和電源電壓中確定每個參數(shù)組在所述首輪的脈沖高度值；其中，將所述首輪及其之后的任一輪的仿真，記為當(dāng)前輪的仿真；針對所述仿真參數(shù)表中至少部分參數(shù)組，設(shè)置在所述當(dāng)前輪的下一輪中所采用的指定高電壓值和指定低電壓值，利用所述指定高電壓值和所述指定低電壓值，設(shè)置所述仿真參數(shù)表中至少部分參數(shù)組在所述下一輪的脈沖高度值。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人杭州行芯科技有限公司，其通訊地址為：310051 浙江省杭州市濱江區(qū)西興街道丹楓路399號3號樓11層；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。