雷智數系統技術(西安)有限公司唐偉獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉雷智數系統技術(西安)有限公司申請的專利一種基于主控制器對存儲器讀寫時訪問參數的確定方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120196289B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-26發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510676904.4,技術領域涉及:G06F3/06;該發明授權一種基于主控制器對存儲器讀寫時訪問參數的確定方法是由唐偉;董璊;李帥;杜宏強;吉鎮東;趙博;孫元春;黨文靜設計研發完成,并于2025-05-26向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于主控制器對存儲器讀寫時訪問參數的確定方法在說明書摘要公布了:本發明公開了一種基于主控制器對存儲器讀寫時訪問參數的確定方法,涉及電子設備存儲技術領域。根據存儲器的性能指標和環境參數,構建適應度函數;響應于訪問參數優化請求,以適應度函數值最大為目標,對訪問參數進行尋優,將滿足預設收斂條件的訪問參數值確定為目標訪問參數值;適應度函數值為主控制器根據每次尋優的訪問參數對存儲器進行讀寫測試得到的性能指標值和環境參數值得到的;將目標訪問參數值作為主控制器對存儲器進行讀寫操作時的訪問參數值。該方法能夠找到最優的訪問參數,從而提高了主控制器從存儲器采樣數據的準確性。
本發明授權一種基于主控制器對存儲器讀寫時訪問參數的確定方法在權利要求書中公布了:1.一種基于主控制器對存儲器讀寫時訪問參數的確定方法,其特征在于,包括: 根據存儲器的性能指標和環境參數,構建適應度函數;所述性能指標包括讀取錯誤率、寫入不成功率和信號穩定性;環境參數包括溫度;適應度函數Fienes為: CT=1+kT·T-Tref; 其中,Eread表示讀取錯誤率,Swrite表示寫入不成功率,σsignal表示信號穩定性,α、β、γ均為權重系數,CT表示溫度補償因子,kT表示溫度敏感系數,T表示溫度,Tref表示參考溫度; 響應于訪問參數優化請求,以適應度函數值最大為目標,對訪問參數進行尋優,將滿足預設收斂條件的訪問參數值確定為目標訪問參數值;適應度函數值為主控制器根據每次尋優的訪問參數對存儲器進行讀寫測試得到的性能指標值和環境參數值得到的; 將所述目標訪問參數值作為主控制器對存儲器進行讀寫操作時的訪問參數值。
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