中國計量科學研究院馮國進獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國計量科學研究院申請的專利輻射測溫方法、裝置、電子設備和存儲介質獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN116295850B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-22發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202310131172.1,技術領域涉及:G01J5/00;該發明授權輻射測溫方法、裝置、電子設備和存儲介質是由馮國進;王景輝;賀書芳;甘海勇設計研發完成,并于2023-02-17向國家知識產權局提交的專利申請。
本輻射測溫方法、裝置、電子設備和存儲介質在說明書摘要公布了:本發明涉及輻射測溫技術領域,提供一種輻射測溫方法、裝置、電子設備和存儲介質,該方法包括:根據反射光的第一方位角、反射光的第一天頂角以及轉換系數,確定第一漫反射比;根據所述第一天頂角、所述轉換系數、入射光的第二方位角以及入射光的第二天頂角,確定第二漫反射比;根據所述第一漫反射比和所述第二漫反射比,確定第三漫反射比;根據所述第三漫反射比和設定參數確定被測物體的溫度。本發明通過測量任意觀測角的第三漫反射比,再基于第三漫反射比進行輻射測溫,如此,提高了輻射測溫的準確性。
本發明授權輻射測溫方法、裝置、電子設備和存儲介質在權利要求書中公布了:1.一種輻射測溫方法,其特征在于,包括: 根據反射光的第一方位角、反射光的第一天頂角以及轉換系數,確定第一漫反射比; 根據所述第一天頂角、所述轉換系數、入射光的第二方位角以及入射光的第二天頂角,確定第二漫反射比; 根據所述第一漫反射比和所述第二漫反射比,確定第三漫反射比; 根據所述第三漫反射比和設定參數確定被測物體的溫度;所述設定參數包括輻射探測信號、發射率、亮度輻射強度和透射比; 所述根據所述第三漫反射比和設定參數確定被測物體的溫度,包括: 根據所述第三漫反射比、所述輻射探測信號、所述發射率、所述亮度輻射強度和所述透射比,確定輻射亮度; 根據所述輻射亮度和所述被測物體的溫度的關聯關系,確定所述被測物體的溫度; 所述根據反射光的第一方位角、反射光的第一天頂角以及轉換系數,確定第一漫反射比的公式如下: ; 其中,表示第一漫反射比,表示轉換系數,表示反射光的第一方位角,表示反射光的第一天頂角; 所述根據所述第一天頂角、所述轉換系數、入射光的第二方位角以及入射光的第二天頂角,確定第二漫反射比的公式如下: ; 其中,表示第二漫反射比,表示轉換系數,表示反射光的第一天頂角,表示入射光的第二天頂角,表示入射光的第二方位角; 所述根據所述第一漫反射比和所述第二漫反射比,確定第三漫反射比的公式如下: ; 其中,表示第三漫反射比,表示第一漫反射比,表示轉換系數,表示反射光的第一方位角,表示反射光的第一天頂角,表示入射光的第二天頂角,表示入射光的第二方位角; 所述根據所述第三漫反射比、所述輻射探測信號、所述發射率、所述亮度輻射強度和所述透射比,確定輻射亮度的公式如下: ; 其中,表示輻射探測信號,表示透射比,表示發射率,表示溫度為的輻射亮度,表示第三漫反射比,表示亮度輻射強度。
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